掃查面盲區(qū)高度測定試塊無損檢測超聲波試塊

一、該類試塊依據掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設計.適用于測定初始掃查面的盲區(qū)高度.該類試塊依據掃查面盲區(qū)高度測定試塊的要求而設計.適用于測定初始掃查面的盲區(qū)高度.

二、NB/T 47013.10-2015標準《承壓設備無損檢測 第10部分：衍射時差法超聲檢測》中提出了對盲區(qū)的控制要求，并規(guī)定了采用掃查面盲區(qū)試塊。華電鄭州機械設計研究院有限公司/鄭州國電機械設計研究所有限公司的檢測人員提出了一種新型的TOFD技術掃查面盲區(qū)對比試塊，該試塊可為制定檢測工藝時確定掃查面盲區(qū)提供準確的數據支撐。下面就讓我們來詳細了解一下吧。

TOFD技術的掃查面盲區(qū)特征

TOFD檢測技術采用探頭對一發(fā)一收的放置方法來控制發(fā)射短脈沖，通過計算遇到缺陷轉變的衍射信號到達時間來分析缺陷的位置及大小。受信號脈沖寬度的限制，近表面缺陷的端點衍射波與直通波發(fā)生重疊，形成掃查面盲區(qū)，導致缺陷定位困難。盲區(qū)深度為d，聲速為c，探頭中心距為2S，直通波的傳輸時間TL=2S/c，直通波脈沖時間寬度Tp可從振幅的10%處截取得到，一般情況下取直通波兩倍周期，則盲區(qū)的深度d可按下式算出：

目前，通過優(yōu)化檢測參數(減小探頭中心距、提高探頭頻率等)來控制掃查面盲區(qū)，但上述參數無論怎樣調節(jié)都無法使盲區(qū)減小到可忽略的程度。由于掃查面盲區(qū)較大，實際檢測時需要采取其他有效措施解決掃查面盲區(qū)內缺陷漏檢的問題。

三、掃查面盲區(qū)對比試塊

NB/T 47013.10-2015標準要求使用掃查面盲區(qū)高度測定試塊來確定初始掃查面盲區(qū)的高度。

該試塊上有距離掃查面不同深度、不同長度的8個Φ2mm橫孔，從標準中可以看出對試塊加工工藝有很高的要求，這些橫孔孔徑較小且長度較長。

四、新型TOFD掃查面盲區(qū)對比試塊

設計的新型TOFD掃查面盲區(qū)對比試塊采用深度連續(xù)變化的矩形槽(見圖1)。該試塊所用材料需經過MT(磁粉檢測)、UT(超聲檢測)、PAUT(相控陣超聲檢測)等方法嚴格檢測，試塊聲束通過區(qū)不得有大于等于Φ2mm的平底孔當量的缺陷存在。試塊采用電火花數控線切割機床加工而成，加工工藝簡單，成本較低，數控加工精度可控，可以滿足現場檢測對比驗證的需要。有條件的情況下，可以在試塊上表面刻上長度，并計算出對應長度位置處盲區(qū)的高度。

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